Spektrální interferometrie v bílém světle pro měření efektivní tloušťky optických elementů se známou disperzí

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27350%2F05%3A00013334" target="_blank" >RIV/61989100:27350/05:00013334 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

White-light spectral interferometry to measure the effective thickness of optical elements of known dispersion.

Popis výsledku v původním jazyce

A spectral-domain white-light interferometric technique of measuring the effective thickness of optical elements of known dispersion is presented when a Michelson interferometer with a cube beam splitter is not dispersion balanced and when the spectral interference fringes are resolved over a wide wavelength range. The technique uses processing one of the recorded spectral interferograms by an adequate method to retrieve the unwrapped phase function, the ambiguity of which is removed by a simple procedure based on linear dependence of the optical path difference between interferometer beams on the refractive index of optical elements. The effective thickness of optical elements is given by the slope of the linear dependence. The technique is used to measure the effective thickness of a cube beam splitter alone or combined with a thin plate made of BK7 glass.

Název v anglickém jazyce

White-light spectral interferometry to measure the effective thickness of optical elements of known dispersion.

Popis výsledku anglicky

A spectral-domain white-light interferometric technique of measuring the effective thickness of optical elements of known dispersion is presented when a Michelson interferometer with a cube beam splitter is not dispersion balanced and when the spectral interference fringes are resolved over a wide wavelength range. The technique uses processing one of the recorded spectral interferograms by an adequate method to retrieve the unwrapped phase function, the ambiguity of which is removed by a simple procedure based on linear dependence of the optical path difference between interferometer beams on the refractive index of optical elements. The effective thickness of optical elements is given by the slope of the linear dependence. The technique is used to measure the effective thickness of a cube beam splitter alone or combined with a thin plate made of BK7 glass.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F03%2F0776" target="_blank" >GA202/03/0776: Magnetooptické jevy v magnetických nanostrukturách</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Acta Physica Slovaca

ISSN

0323-0465

e-ISSN

—

Svazek periodika

55

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

SK - Slovenská republika

Počet stran výsledku

10

Strana od-do

387-393

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—