Spoof plasmons in corrugated semiconductors
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27640%2F15%3A86095516" target="_blank" >RIV/61989100:27640/15:86095516 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1080/09205071.2015.1065772" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1080/09205071.2015.1065772</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1080/09205071.2015.1065772" target="_blank" >10.1080/09205071.2015.1065772</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Spoof plasmons in corrugated semiconductors
Popis výsledku v původním jazyce
We report on a theoretical investigation of the dispersion relation of surface plasmon polaritons (SPPs) on a periodically corrugated semiconductor surface. We assumed Drudes permittivity model of the semiconductor, which accurately describes the loss ofthese spoof SPPs. In the THz frequency range, the properties of the dispersion and loss of spoof SPPs on corrugated Si surfaces are studied. A low-loss propagation of spoof SPPs can be achieved by an optimum design of the surface structure. It was foundthat by increasing the lattice constant or by reducing the groove depth, the investigated structure can provide a low guiding attenuation.
Název v anglickém jazyce
Spoof plasmons in corrugated semiconductors
Popis výsledku anglicky
We report on a theoretical investigation of the dispersion relation of surface plasmon polaritons (SPPs) on a periodically corrugated semiconductor surface. We assumed Drudes permittivity model of the semiconductor, which accurately describes the loss ofthese spoof SPPs. In the THz frequency range, the properties of the dispersion and loss of spoof SPPs on corrugated Si surfaces are studied. A low-loss propagation of spoof SPPs can be achieved by an optimum design of the surface structure. It was foundthat by increasing the lattice constant or by reducing the groove depth, the investigated structure can provide a low guiding attenuation.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Electromagnetic Waves and Applications
ISSN
0920-5071
e-ISSN
—
Svazek periodika
29
Číslo periodika v rámci svazku
14
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
1899-1907
Kód UT WoS článku
000360305800008
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84940712792