Propagation of surface waves formed at the interface between hyperbolic metamaterial and highly doped semiconductor
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27640%2F16%3A86098072" target="_blank" >RIV/61989100:27640/16:86098072 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/s11082-016-0523-0" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1007/s11082-016-0523-0</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/s11082-016-0523-0" target="_blank" >10.1007/s11082-016-0523-0</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Propagation of surface waves formed at the interface between hyperbolic metamaterial and highly doped semiconductor
Popis výsledku v původním jazyce
We provide an analysis of surface-wave propagation at a boundary between a semiconductor and a multilayered hyperbolic metamaterial. In particular we analyzed the structure dispersion for various cases of a hyperbolic metamaterial. It is concluded that one can tune the frequency range of surface waves by varying the thickness of dielectric sheets. It is also shown that this frequency range can be broadened by decreasing the thickness of the dielectric in the metal-dielectric compound or by increasing the doping concentration of the semiconductor.
Název v anglickém jazyce
Propagation of surface waves formed at the interface between hyperbolic metamaterial and highly doped semiconductor
Popis výsledku anglicky
We provide an analysis of surface-wave propagation at a boundary between a semiconductor and a multilayered hyperbolic metamaterial. In particular we analyzed the structure dispersion for various cases of a hyperbolic metamaterial. It is concluded that one can tune the frequency range of surface waves by varying the thickness of dielectric sheets. It is also shown that this frequency range can be broadened by decreasing the thickness of the dielectric in the metal-dielectric compound or by increasing the doping concentration of the semiconductor.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED1.1.00%2F02.0070" target="_blank" >ED1.1.00/02.0070: Centrum excelence IT4Innovations</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Optical And Quantum Electronics
ISSN
0306-8919
e-ISSN
—
Svazek periodika
48
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000372264500016
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84961241357