Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Determination of anisotropic crystal optical properties using Mueller matrix spectroscopic ellipsometry

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989100%3A27740%2F16%3A86098476" target="_blank" >RIV/61989100:27740/16:86098476 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/61989100:27640/16:86098476

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2211812816000304" target="_blank" >http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2211812816000304</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.mspro.2016.03.021" target="_blank" >10.1016/j.mspro.2016.03.021</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Determination of anisotropic crystal optical properties using Mueller matrix spectroscopic ellipsometry

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this paper the Mueller matrix ellipsometry in the spectral range from 0.73 to 6.4 eV measured using dual rotating compensator ellipsometer RC2 (Woollam company) is applied to study anisotropic crystals. First we summarize the effects of optical anisotropy to Mueller matrix spectra. As an example of an uniaxial sample we have characterized a Rutile (TiO2) tetragonal crystal. The optical axis of the sample is parallel to its surface. The sample is characterized at variable angle of incidence and variable azimuthal rotation angle. The Mueller matrix spectra are fitted to the model based on Kramers-Kronig consistent Basis spline and obtained optical functions are compared with tabulated data and ab-initio models based on first-principle calculated electronic structure. (C) 2016 The Authors. Published by Elsevier Ltd.

  • Název v anglickém jazyce

    Determination of anisotropic crystal optical properties using Mueller matrix spectroscopic ellipsometry

  • Popis výsledku anglicky

    In this paper the Mueller matrix ellipsometry in the spectral range from 0.73 to 6.4 eV measured using dual rotating compensator ellipsometer RC2 (Woollam company) is applied to study anisotropic crystals. First we summarize the effects of optical anisotropy to Mueller matrix spectra. As an example of an uniaxial sample we have characterized a Rutile (TiO2) tetragonal crystal. The optical axis of the sample is parallel to its surface. The sample is characterized at variable angle of incidence and variable azimuthal rotation angle. The Mueller matrix spectra are fitted to the model based on Kramers-Kronig consistent Basis spline and obtained optical functions are compared with tabulated data and ab-initio models based on first-principle calculated electronic structure. (C) 2016 The Authors. Published by Elsevier Ltd.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Procedia Materials Science. Volume 12

  • ISBN

  • ISSN

    2211-8128

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    118-123

  • Název nakladatele

    Elsevier

  • Místo vydání

    Amsterdam

  • Místo konání akce

    Ostrava

  • Datum konání akce

    8. 9. 2014

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000386622900021