Mikroskopie atomárních sil a její aplikace při studiu povrchů a nanočástic

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F02%3A00001547" target="_blank" >RIV/61989592:15310/02:00001547 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Mikroskopie atomárních sil a její aplikace při studiu povrchů a nanočástic

Popis výsledku v původním jazyce

Příspěvek je přehledem našich aplikací AFM při studiu povrchů a nanočástic. Nejzajímavější aplikací AFM je analýza nanočástic oxidu železa a jejich morfologická studie.

Název v anglickém jazyce

Atomic Force Microscopy and its Application at Nanoparticles and Surface Study

Popis výsledku anglicky

The atomic force microscope (AFM) belongs to the new family of scanning probe microscopes (SPM). Contribution is a review of our applications of AFM Explorer at surface study of solid conductive and non-conductive samples. The interesting application ofAFM is analysis of iron oxide nanoparticles and their morphological characteristics study.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JJ - Ostatní materiály

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Sborník 14.konference českých a slovenských fyziků

ISBN

80-7082-907-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

691

Strana od-do

357-362

Název nakladatele

ZČU

Místo vydání

Plzeň

Místo konání akce

Plzeň

Datum konání akce

—

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—