Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Measurement uncertainty of white-light interferometry on optically rough surfaces

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F11%3A33117926" target="_blank" >RIV/61989592:15310/11:33117926 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Measurement uncertainty of white-light interferometry on optically rough surfaces

  • Popis výsledku v původním jazyce

    White-light interferometry on rough surfaces is an optical method for the measurement of the geometrical form of objects. The longitudinal coordinate of the measured surface is obtained from the measured interferogram by means of an evaluation method. However, the longitudinal coordinate cannot be determined completely accurately because the interferogram is affected by noise. We calculate the lower limit of the longitudinal measurement uncertainty caused by noise by use of the Cramer-Rao inequality. Additionally, we calculate the lower limit of the longitudinal measurement uncertainty caused by shot noise only.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement uncertainty of white-light interferometry on optically rough surfaces

  • Popis výsledku anglicky

    White-light interferometry on rough surfaces is an optical method for the measurement of the geometrical form of objects. The longitudinal coordinate of the measured surface is obtained from the measured interferogram by means of an evaluation method. However, the longitudinal coordinate cannot be determined completely accurately because the interferogram is affected by noise. We calculate the lower limit of the longitudinal measurement uncertainty caused by noise by use of the Cramer-Rao inequality. Additionally, we calculate the lower limit of the longitudinal measurement uncertainty caused by shot noise only.

Klasifikace

  • Druh

    C - Kapitola v odborné knize

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0058" target="_blank" >ED2.1.00/03.0058: Regionální centrum pokročilých technologií a materiálů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název knihy nebo sborníku

    Numerical Simulations of Physical and Engineering Processes

  • ISBN

    978-953-307-620-1

  • Počet stran výsledku

    12

  • Strana od-do

    491-502

  • Počet stran knihy

    594

  • Název nakladatele

    InTech

  • Místo vydání

    Rijeka, Croatia

  • Kód UT WoS kapitoly