Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

White-light interferometry on rough surfaces - measurement uncertainty caused by noise

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F12%3A33139154" target="_blank" >RIV/61989592:15310/12:33139154 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1364/AO.51.000465" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1364/AO.51.000465</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1364/AO.51.000465" target="_blank" >10.1364/AO.51.000465</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    White-light interferometry on rough surfaces - measurement uncertainty caused by noise

  • Popis výsledku v původním jazyce

    White-light interferometry on rough surfaces is an optical method for the measurement of the geometrical form of objects. The longitudinal coordinate of the measured surface is obtained from the measured interferogram by means of an evaluation method. However, the longitudinal coordinate cannot be determined completely accurately because the interferogram is affected by noise. We calculate the lower limit of the longitudinal measurement uncertainty caused by noise by use of the Cramer-Rao inequality. Additionally, we calculate the lower limit of the longitudinal measurement uncertainty caused by shot noise only.

  • Název v anglickém jazyce

    White-light interferometry on rough surfaces - measurement uncertainty caused by noise

  • Popis výsledku anglicky

    White-light interferometry on rough surfaces is an optical method for the measurement of the geometrical form of objects. The longitudinal coordinate of the measured surface is obtained from the measured interferogram by means of an evaluation method. However, the longitudinal coordinate cannot be determined completely accurately because the interferogram is affected by noise. We calculate the lower limit of the longitudinal measurement uncertainty caused by noise by use of the Cramer-Rao inequality. Additionally, we calculate the lower limit of the longitudinal measurement uncertainty caused by shot noise only.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Optics

  • ISSN

    1559-128X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    51

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    465-473

  • Kód UT WoS článku

    000300408400019

  • EID výsledku v databázi Scopus