Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Impedanční spektrograf pro měření impedance deponované vrstvy ve výbojovém plazmatu

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F17%3A73584782" target="_blank" >RIV/61989592:15310/17:73584782 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0031/uv031194.pdf" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0031/uv031194.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Impedanční spektrograf pro měření impedance deponované vrstvy ve výbojovém plazmatu

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Impedanční spektrograf plazmatu je zařízení, které umožňuje během doby růstu tenké vrstvy v plazmatu určit a vyčlenit z celkové naměřené impedance v reálném čase samostatnou impedanci deponované vrstvy, tedy její reálnou a imaginární část, v závislosti na frekvenci a určit kapacitu a paralelní odpor deponované vrstvy. Oddělením impedance deponované vrstvy na sondách získáme také samostatnou impedanci vlastního výbojového plazmatu. Z této impedance můžeme dále získat informaci o hustotě výbojového plazmatu tedy koncentrace elektronů ve výbojovém plazmatu.

  • Název v anglickém jazyce

    An impedance spectrograph for impedance measurement of a deposited layer in discharge plasma

  • Popis výsledku anglicky

    Impedance spectrometer of plasma is a device which can measure and can exclude the impedance of deposited thin film from the total impedance during the growth process in the plasma. It means to determine the real and imaginary part in dependence on frequency and calculate the capacitance and parallel resistance of deposited film. By excluding of the impedance of deposited film, we can further determine and impedance of discharge plasma. We can get from this plasma impedance the information about a plasma density (electron concentration) of discharge plasma.

Klasifikace

  • Druh

    F<sub>uzit</sub> - Užitný vzor

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/TA04011156" target="_blank" >TA04011156: Funkční tenkovrstvé optické struktury.</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Číslo patentu nebo vzoru

    31194

  • Vydavatel

    CZ001 -

  • Název vydavatele

    Industrial Property Office

  • Místo vydání

    Prague

  • Stát vydání

    CZ - Česká republika

  • Datum přijetí

  • Název vlastníka

    Univerzita Palackého v Olomouci

  • Způsob využití

    A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

  • Druh možnosti využití

    P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence