Mikroskopie skenující sondou

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15410%2F03%3A00001422" target="_blank" >RIV/61989592:15410/03:00001422 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Mikroskopie skenující sondou

Popis výsledku v původním jazyce

Mikroskopie atomárních sil patří do skupiny mikroskopických technik, využívajících skenující sondu. Tyto techniky zahájily svůj dynamický vývoj v roce 1981, kdy byl v laboratořích IBM v Curychu vyvinut skenovací tunelovací mikroskop. Doposud mezi odbornými monografiemi chyběla česká publikace, která by zahrnovala všechny důležité aspekty jednotlivých technik spadající do této problematiky. Přestože z větší části je kniha věnována mikroskopii atomárních sil, se kterou má naše pracoviště největší zkušenosti, v jednotlivých kapitolách a odstavcích jsou popsány všechny důležité stránky týkající se teorie, experimentu i aplikací všech podstatných technik a metod patřících do zmíněné skenovací sondové mikroskopie. Proto je kniha vhodná pro studenty různých fyzikálních oborů magisterského i doktorského studia, pro studenty dalších technických a nefyzikálních oborů, ale i pro veškerou odbornou veřejnost.

Název v anglickém jazyce

Scanning Probe Microscopy

Popis výsledku anglicky

The scanning probe microscope is an imaging tool with a vast dynamic range, spanning the realms of optical and electron microscopes. It's also a profiler with unprecedented 3-D resolution. In some cases, scanning probe microscopes can measure physical properties such as surface conductivity, static charge distribution, localized friction, magnetic fields, and elastic moduli. As a result, applications of SPMs are very diverse. This book was written to help you learn about SPMs, a process that should begin with a thorough understanding of the basics. Issues covered in this booklet range from fundamental physics of SPMs to their practical capabilities and instrumentation. Examples of applications are included throughout the text, and several application-specific articles are listed at the end of each chapter.

Druh

B - Odborná kniha

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

ISBN

80-244-0602-0

Počet stran knihy

146

Název nakladatele

Univerzita Palackého

Místo vydání

Olomouc

Kód UT WoS knihy

—