Evaluation of semi-insulating Ti-doped and Mn-doped InP for radiation detection.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985882%3A_____%2F01%3A13010117" target="_blank" >RIV/67985882:_____/01:13010117 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Evaluation of semi-insulating Ti-doped and Mn-doped InP for radiation detection.
Popis výsledku v původním jazyce
Undoped InP and doped with Fe, co-doped with Zn and Ti and doped with Mn were grown. Hall measurements and DLTS were used for characterization. Two electron traps were found in undoped InP whose concentration was suppressed in Mn doped InP. Binding energies of Fe, Ti and Mn deep level impurities were determined from temperature dependent Hall measurements. Resistivity of InP:Ti at the lowered temperature 230 K (10 6 .OMEGA.m) and small hole capture rate of Ti makes this material suitable for radiation detection.
Název v anglickém jazyce
Evaluation of semi-insulating Ti-doped and Mn-doped InP for radiation detection.
Popis výsledku anglicky
Undoped InP and doped with Fe, co-doped with Zn and Ti and doped with Mn were grown. Hall measurements and DLTS were used for characterization. Two electron traps were found in undoped InP whose concentration was suppressed in Mn doped InP. Binding energies of Fe, Ti and Mn deep level impurities were determined from temperature dependent Hall measurements. Resistivity of InP:Ti at the lowered temperature 230 K (10 6 .OMEGA.m) and small hole capture rate of Ti makes this material suitable for radiation detection.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Semiconductor Science and Technology
ISSN
0268-1242
e-ISSN
—
Svazek periodika
16
Číslo periodika v rámci svazku
12
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
1002-1007
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—