Surface roughness and resistivity of thin films.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985882%3A_____%2F02%3A13020040" target="_blank" >RIV/67985882:_____/02:13020040 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Surface roughness and resistivity of thin films.

Popis výsledku v původním jazyce

Surface finish of alumina thin film substrates was measured with stylus profilometer. A connection between the obtained values of Ra and the thin film resistance was studied. No correlation can be found owing to big stylus radius and computation method used in profilometer.

Název v anglickém jazyce

Surface roughness and resistivity of thin films.

Popis výsledku anglicky

Surface finish of alumina thin film substrates was measured with stylus profilometer. A connection between the obtained values of Ra and the thin film resistance was studied. No correlation can be found owing to big stylus radius and computation method used in profilometer.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/KSK1010104" target="_blank" >KSK1010104: Fyzika kondenzovaných systémů a materiálový výzkum</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Applied Electronics 2002.

ISBN

80-7082-881-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

63-66

Název nakladatele

University of West Bohemia

Místo vydání

Pilsen

Místo konání akce

Pilsen [CZ]

Datum konání akce

11. 9. 2002

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—