VT STM zkoumání Ag vrstvy narostené na Bi2Te3./sub

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985882%3A_____%2F03%3A00105934" target="_blank" >RIV/67985882:_____/03:00105934 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

VT STM investigations of Ag film growth on Bi2Te3./sub

Popis výsledku v původním jazyce

We carried out STM/STS studies of Ag structures grown on Bi2Te3 surface at different temperatures. We got images of surface of the substrate, which shoved a layered structure with many monoatomic terraces. We observed different I-V characteristics and contrast on CITS maps. The dI/dV curves were compared with theoretically calculated DOS of Bi p and Te-1 p orbitals. The diameters and densities of Ag clusters deposited on the Bi2Te3 substrate were dependent on the substrate temperature.

Název v anglickém jazyce

VT STM investigations of Ag film growth on Bi2Te3./sub

Popis výsledku anglicky

We carried out STM/STS studies of Ag structures grown on Bi2Te3 surface at different temperatures. We got images of surface of the substrate, which shoved a layered structure with many monoatomic terraces. We observed different I-V characteristics and contrast on CITS maps. The dI/dV curves were compared with theoretically calculated DOS of Bi p and Te-1 p orbitals. The diameters and densities of Ag clusters deposited on the Bi2Te3 substrate were dependent on the substrate temperature.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F02%2F0098" target="_blank" >GA202/02/0098: Studium velmi tenkých Bi2Te3 vrstev připravených laserovou ablací a jejich modifikace pomocí rastrovacího tunelového mikroskopu (STM)</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

STM'2003 - 12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques

ISBN

0-7354-0168-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

853-858

Název nakladatele

American Institute of Physics

Místo vydání

New York

Místo konání akce

Eindhoven

Datum konání akce

21. 7. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—