Použití rastrovací termální mikroskopie při analýzách geometrie struktury mikročipu
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081723%3A_____%2F06%3A00044322" target="_blank" >RIV/68081723:_____/06:00044322 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00177016:_____/06:#0000306
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Applications of scanning thermal microscopy in the analysis of the geometry of patterned structures
Popis výsledku v původním jazyce
In this article, the results of the scanning thermal microscopy (SThM) analysis of artificial structures such as microchip surfaces and solar cell contacts are presented. It is shown that in the absence of surface roughness the SThM can be used to obtainreliable material contrast images. However, roughness and other topographical features can influence the thermal data in a strong way.
Název v anglickém jazyce
Applications of scanning thermal microscopy in the analysis of the geometry of patterned structures
Popis výsledku anglicky
In this article, the results of the scanning thermal microscopy (SThM) analysis of artificial structures such as microchip surfaces and solar cell contacts are presented. It is shown that in the absence of surface roughness the SThM can be used to obtainreliable material contrast images. However, roughness and other topographical features can influence the thermal data in a strong way.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/FT-TA%2F094" target="_blank" >FT-TA/094: *Vývoj metod pro charakterizaci defektů na površích pevných látek.</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Surface and Interface Analysis
ISSN
0142-2421
e-ISSN
—
Svazek periodika
38
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
383-387
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—