Imaging of the voltage contrast in environmental SEM.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F02%3A12020041" target="_blank" >RIV/68081731:_____/02:12020041 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Imaging of the voltage contrast in environmental SEM.
Popis výsledku v původním jazyce
Current methodology of imaging in the scanning electron microscopy is based on the detection of signal electrons that carry topografic and materialcontrast of specimens under study. Electronic devices can be observed because in their standard working mode voltage differences on component surfaces are visualized by means of the voltage contrast. This contrast can be acquired in nearly any commercially available scanning electron microscopeby detection and subsequent analysis of secondary electrons.
Název v anglickém jazyce
Imaging of the voltage contrast in environmental SEM.
Popis výsledku anglicky
Current methodology of imaging in the scanning electron microscopy is based on the detection of signal electrons that carry topografic and materialcontrast of specimens under study. Electronic devices can be observed because in their standard working mode voltage differences on component surfaces are visualized by means of the voltage contrast. This contrast can be acquired in nearly any commercially available scanning electron microscopeby detection and subsequent analysis of secondary electrons.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F01%2F1271" target="_blank" >GA102/01/1271: Studium detekčních metod a systémů v hraničních podmínkách environmentální rastrovací elektronové mikroskopie</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society.
ISBN
80-238-8749-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
97-98
Název nakladatele
CSMS
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Vranovská Ves [CZ]
Datum konání akce
8. 2. 2002
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—