Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Elektronová spektro-mikroskopie s mnohakanálovou detekcí signálu.

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F02%3A12020139" target="_blank" >RIV/68081731:_____/02:12020139 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Elektronová spektro-mikroskopie s mnohakanálovou detekcí signálu.

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Cílem disertace je studium mnohakanálové spektroskopie elektronů (sekundárních, pružně i nepružně odražených a Augerových) v rastrovacím elektronovém mikroskopu, a to s ohledem na různé typy analyzátorů a detektorů a s přihlédnutím k poměru signálu k šumu v detektovaných signálech. Dalším cílem je vytvoření softwaru pro elektronické zpracování obrazu vzorku zprostředkujícího kombinovanou analytickou a mikroskopickou informaci. V experimentální části je jedním z hlavních cílů ověření metodiky na ultravysokovakuovém mikroskopu s pomalými elektrony, který v rámci řešení této disertace bude vybaven paralelním hyperbolickým analyzátorem elektronů.

  • Název v anglickém jazyce

    Secondary electron contrast of doped regions in semiconductor.

  • Popis výsledku anglicky

    The aim of the dissertation is study of multi-channel spectroscopy of electrons (secondary, both elastically and non-ellastically reflected as well as the Auger ones) in a scanning electron microscope with respect to the signal-to-noise ratio in detectedsignals. Another aim is to write software for electronic processing of an image of a specimen providing combined analytical and microscopic information. Verification of the methodology at an ultra-high vacuum microscope with slow electrons, which will be equipped with a parallel hyperbolic electrons analyzer in the scope of the project, is one of main goals of the experimental part.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/IAA1065901" target="_blank" >IAA1065901: Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2002

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002.

  • ISBN

    80-238-9915-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    7-10

  • Název nakladatele

    Ústav přístrojové techniky AV ČR

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno [CZ]

  • Datum konání akce

    16. 12. 2002

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku