Zkoumání elektronických struktur a materiálů v rastrovacím nízko-energiovém elektronovém mikroskopu (SLEEM)

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A00100019" target="_blank" >RIV/68081731:_____/03:00100019 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)

Popis výsledku v původním jazyce

The SLEEM mode, available via moderate adaptation to a conventional SEM, is capable of providing the image resolution nearly constant over the full energy range from the primary beam energy down to even fractions of eV. In this way, one can enter multiple novel contrast mechanisms, directly visualizing details of crystallinic and electronic structure of the specimen, which are particularly important in development and diagnostics of nano-structured materials and devices

Název v anglickém jazyce

Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)

Popis výsledku anglicky

The SLEEM mode, available via moderate adaptation to a conventional SEM, is capable of providing the image resolution nearly constant over the full energy range from the primary beam energy down to even fractions of eV. In this way, one can enter multiple novel contrast mechanisms, directly visualizing details of crystallinic and electronic structure of the specimen, which are particularly important in development and diagnostics of nano-structured materials and devices

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IAA1065304" target="_blank" >IAA1065304: Mnohokanálová spektro-mikroskopie pomalými a Augerovými elektrony</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the International Conference NANO'03

ISBN

80-214-2527-X

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

87-92

Název nakladatele

ČSNMT

Místo vydání

Praha

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

21. 9. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—