Environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM-II

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00047189" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00047189 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM-II

Popis výsledku v původním jazyce

Byl plně uveden do činnosti mikroskop, který umožňuje pozorování vzorků ve vysokovakuových podmínkách s rozlišením 5nm při urychlovacím napětí 25kV. Současně tento mikroskop dovoluje pozorovat vlhké vzorky při tlaku ve vzorkové komoře 2000Pa. V mikroskopu je využita optická soustava tipu VEGA, pod níž je zabudovaná diferenciální komora se scintilačním detektorem zpětně odražených elektronů a ionizačním detektorem sekundárních elektronů. Mikroskop je dále vybaven zařízením pro udržování trvalé vlhkosti vzorků a Peltierovým článkem pro jejich chlazení až do -20°C. Detekční systém je softwarově vybaven. Je adjustováno měření tlaku v komoře vzorku, v diferenciální komoře a v tubusu mikroskopu. Mikroskop je univerzálním zařízením pro pozorování všech tipů nevodivých a vodivých vzorků.

Název v anglickém jazyce

Environmental scanning electron microscope AQUASEM-II

Popis výsledku anglicky

A microscope enabling observation of specimens at high vacuum conditions with the resolution of 5 nm and the accelerating voltage of 25 kV has been taken to operation. This microscope also enables observation of wet samples at a pressure of 2000 Pa in the specimen chamber. An optical system of the VEGA type, under which is inbuilt a differential chamber with the scintillation detector of backscattered electrons and a ionisation detector of secondary electrons is employed in the microscope. The microscope is equipped with a device for preservation of permanent wetness of samples and the Peltie cell for their cooling down to -20°C. The detection system is equipped with software. The measurement of pressure in the specimen chamber, in the differential chamber and in the column of the microscope has been adjusted. The microscope is a universal instrument for observation of all types of both conductive and nonconductive samples.

Druh

X - Nezařazeno

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IBS2065107" target="_blank" >IBS2065107: Rastrovací elektronová mikroskopie pro výzkum struktury vlhkých materiálů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů