Optimalizace scintilačního detektoru pro SEM

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109033" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109033 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optimization of scintillation detector for SEM

Popis výsledku v původním jazyce

Detective quantum efficiency (DQE) is the best quantity for characterisation of the detector quality. Unfortunately, low DQE of a poor detector gives nearly no information about the limiting component. To enhance the bad scintillation detector, one has to divide its performance into particular events. Electron collection, photon generation, escape from scintillator, coupling to light-guide, losses in light-guide, photoelectron generation, as well as collection and multiplication in a photomultiplier tube (PMT) are the most significant events in the scintillation detector for SEM. To analyse these events and optimise the detector, a lot of important quantities of detector components (such as conversion efficiency, decay time, intrinsic noise and opticalreflectivity, transmittance and matching) must be known. Thereafter, properties of each component can be calculated from individual quantities, and properties of the whole detector can be determined using a convolution

Název v anglickém jazyce

Optimization of scintillation detector for SEM

Popis výsledku anglicky

Detective quantum efficiency (DQE) is the best quantity for characterisation of the detector quality. Unfortunately, low DQE of a poor detector gives nearly no information about the limiting component. To enhance the bad scintillation detector, one has to divide its performance into particular events. Electron collection, photon generation, escape from scintillator, coupling to light-guide, losses in light-guide, photoelectron generation, as well as collection and multiplication in a photomultiplier tube (PMT) are the most significant events in the scintillation detector for SEM. To analyse these events and optimise the detector, a lot of important quantities of detector components (such as conversion efficiency, decay time, intrinsic noise and opticalreflectivity, transmittance and matching) must be known. Thereafter, properties of each component can be calculated from individual quantities, and properties of the whole detector can be determined using a convolution

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F2144" target="_blank" >GA102/04/2144: Optimalizace scintilačního detektoru pro rastrovací elektronovou mikroskopii</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

69-70

Název nakladatele

Belgian Society for Microscopy

Místo vydání

Liege

Místo konání akce

Antwerp

Datum konání akce

22. 8. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—