Experimentální a simulační metody pro optimalizaci scintilačního detektoru

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109050" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109050 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Experimental and Simulative Methods for Scintillation Detector Optimization

Popis výsledku v původním jazyce

In S(T)EM an image is formed using a focused electron beam, which is scanning across a very small part of the specimen surface. A scintillation detection system consisting of a scintillator, light-guide and photomultiplier (PMT) processes only one pixelof the image at any given moment. Not only efficiency, but also kinetic properties of such a system are of great importance. Scintillation detectors can show a noticeable difference in detective quantum efficiency (DQE) due to the bad electron-photon energy conversion and/or light losses in the optical part of the detector. Up to now, some studies were engaged in measurement of S(T)EM detectors performance ascertaining very low DQE for some detectors, but no suggestion has been made to optimize the detector set-up. To find the neck of a detection system, one must examine the whole detection path step by step

Název v anglickém jazyce

Experimental and Simulative Methods for Scintillation Detector Optimization

Popis výsledku anglicky

In S(T)EM an image is formed using a focused electron beam, which is scanning across a very small part of the specimen surface. A scintillation detection system consisting of a scintillator, light-guide and photomultiplier (PMT) processes only one pixelof the image at any given moment. Not only efficiency, but also kinetic properties of such a system are of great importance. Scintillation detectors can show a noticeable difference in detective quantum efficiency (DQE) due to the bad electron-photon energy conversion and/or light losses in the optical part of the detector. Up to now, some studies were engaged in measurement of S(T)EM detectors performance ascertaining very low DQE for some detectors, but no suggestion has been made to optimize the detector set-up. To find the neck of a detection system, one must examine the whole detection path step by step

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F2144" target="_blank" >GA102/04/2144: Optimalizace scintilačního detektoru pro rastrovací elektronovou mikroskopii</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 9th International Seminar Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation

ISBN

80-239-3246-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

67-68

Název nakladatele

Institute of Scientific Instruments AS CR

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Skalský Dvůr

Datum konání akce

12. 7. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—