Backscattered electron imaging using the improved YAG scintillation detector.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A12030030" target="_blank" >RIV/68081731:_____/03:12030030 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Backscattered electron imaging using the improved YAG scintillation detector.

Popis výsledku v původním jazyce

It is known that the E-T scintillation PMT system [1] represents the most efficient detector of signal electrons in the SEM. Today, practically all types of SEMs are standardly equipped with this detector for the detection of secondary electrons (SEs). For backscattered electrons (BSEs) not only scintillation detector but also semiconductor and channel plate detectors are used. The highest detection quantum efficiency (DQE) is achieved with the scintillation detector on the basis of the yttrium aluminium garnet single crystal scintillator (YAG)[2].

Název v anglickém jazyce

Backscattered electron imaging using the improved YAG scintillation detector.

Popis výsledku anglicky

It is known that the E-T scintillation PMT system [1] represents the most efficient detector of signal electrons in the SEM. Today, practically all types of SEMs are standardly equipped with this detector for the detection of secondary electrons (SEs). For backscattered electrons (BSEs) not only scintillation detector but also semiconductor and channel plate detectors are used. The highest detection quantum efficiency (DQE) is achieved with the scintillation detector on the basis of the yttrium aluminium garnet single crystal scintillator (YAG)[2].

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IBS2065107" target="_blank" >IBS2065107: Rastrovací elektronová mikroskopie pro výzkum struktury vlhkých materiálů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 6th Multinational Congress on Microscopy - European Extension.

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

450-451

Název nakladatele

Croatian Society for Electron Microscopy

Místo vydání

Zagreb

Místo konání akce

Pula [HR]

Datum konání akce

1. 6. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—