Metoda využívající optickou frekvenci pro měření vzdáleností se subnanometrovým rozlišením
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022397" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022397 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The optical frequency method of distance measurement with sub-nanometer resolution
Popis výsledku v původním jazyce
We present design and experimental setup for direct transformation of the relative change of distances in measuring arm of the Michelson interferometer to relative changes of the resonant optical-frequency of Fabry?Perot resonator. An external tunable laser source provides identification of one of the resonant optical frequency of the resonator by the frequency locking mechanism with synchronous detection technique in the servo loop feedback. Measured frequency values and values of interference phase acquired by the interferometer are simultaneously sampled step by step for each elongation position of PZT element. We used that experimental setup for the testing process where a verification of scale-linearity of Michelson interferometer with total resolution 0.3 nm is investigated.
Název v anglickém jazyce
The optical frequency method of distance measurement with sub-nanometer resolution
Popis výsledku anglicky
We present design and experimental setup for direct transformation of the relative change of distances in measuring arm of the Michelson interferometer to relative changes of the resonant optical-frequency of Fabry?Perot resonator. An external tunable laser source provides identification of one of the resonant optical frequency of the resonator by the frequency locking mechanism with synchronous detection technique in the servo loop feedback. Measured frequency values and values of interference phase acquired by the interferometer are simultaneously sampled step by step for each elongation position of PZT element. We used that experimental setup for the testing process where a verification of scale-linearity of Michelson interferometer with total resolution 0.3 nm is investigated.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GP102%2F02%2FP122" target="_blank" >GP102/02/P122: Detekční metody pro laserový interferometr s polovodičovým laserem</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings SPIE - The International Society for Optical Engineering
ISBN
0-8194-5757-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
252-257
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham
Místo konání akce
Merida
Datum konání akce
14. 2. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—