Zobrazování s vysokým rozlišením pomocí zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00092197" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00092197 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

High Resolution Imaging by Means of Backscattered Electrons in the Scanning Electron Microscope

Popis výsledku v původním jazyce

This paper deals with imaging by means of backscattered electrons in the high resolution scanning electron microscopy. Possible backscattered electrons detection systems are outlined and one of the most efficient, the high take of angle single crystal scintillation detector, is described in detail. Its advantages and disadvantages are discussed and the comparison with the secondary electron detection modes is shown. The high resolution micrographs taken by the backscattered electron detector as well asby the secondary electron detectors are displayed.

Název v anglickém jazyce

High Resolution Imaging by Means of Backscattered Electrons in the Scanning Electron Microscope

Popis výsledku anglicky

This paper deals with imaging by means of backscattered electrons in the high resolution scanning electron microscopy. Possible backscattered electrons detection systems are outlined and one of the most efficient, the high take of angle single crystal scintillation detector, is described in detail. Its advantages and disadvantages are discussed and the comparison with the secondary electron detection modes is shown. The high resolution micrographs taken by the backscattered electron detector as well asby the secondary electron detectors are displayed.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Materials Science Forum

ISSN

0255-5476

e-ISSN

—

Svazek periodika

567-568

Číslo periodika v rámci svazku

-

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

313-316

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—