Zobrazování s vysokým rozlišením pomocí zpětně odražených elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00092625" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00092625 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
High Resolution Imaging by Means of Backscattered Electrons in the Scanning Electron Microscope
Popis výsledku v původním jazyce
Article deals with the high resolution imaging by means of backscattered electrons (BSE) in the scanning electron microscope. Various systems for the detection of backscattered electrons are outlined. Special attention is paid to the scintillation BSE detector with YAG single crystal scintillator. Finally, high resolution images of various samples taken by this detector are presented.
Název v anglickém jazyce
High Resolution Imaging by Means of Backscattered Electrons in the Scanning Electron Microscope
Popis výsledku anglicky
Article deals with the high resolution imaging by means of backscattered electrons (BSE) in the scanning electron microscope. Various systems for the detection of backscattered electrons are outlined. Special attention is paid to the scintillation BSE detector with YAG single crystal scintillator. Finally, high resolution images of various samples taken by this detector are presented.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
5th International Conference on Materials Structure and Micromechanics of Fracture. Abstract booklet
ISBN
978-80-214-3434-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
1
Strana od-do
165
Název nakladatele
VUTIUM
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
27. 6. 2007
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—