Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Rastrovací elektronová mikroskopie na velmi nízkých energiích

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00094363" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00094363 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Very Low Energy Scanning Electron Microscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The method of very low energy scanning electron microscopy below about 50 eV is treated in full, starting from physics of interaction of very slow electrons with solids, through principle of deceleration of the primary electron beam in the SEM by means of the cathode lens and properties of this assembly, description of contrast mechanisms, up to presentation of results of demonstration experiments performed on families of samples important in various branches of materials science.

  • Název v anglickém jazyce

    Very Low Energy Scanning Electron Microscopy

  • Popis výsledku anglicky

    The method of very low energy scanning electron microscopy below about 50 eV is treated in full, starting from physics of interaction of very slow electrons with solids, through principle of deceleration of the primary electron beam in the SEM by means of the cathode lens and properties of this assembly, description of contrast mechanisms, up to presentation of results of demonstration experiments performed on families of samples important in various branches of materials science.

Klasifikace

  • Druh

    C - Kapitola v odborné knize

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název knihy nebo sborníku

    Modern Research and Educational Topics in Microscopy

  • ISBN

    978-84-611-9420-9

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

    795-804

  • Počet stran knihy

  • Název nakladatele

    Formatex

  • Místo vydání

    Badajoz

  • Kód UT WoS kapitoly