Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Mnohakanálový detektor pomalých zpětně odražených elektronů

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00095347" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00095347 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Mnohakanálový detektor pomalých zpětně odražených elektronů

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Byl navržen, zkonstruován, vyroben a vyzkoušen paralelní osmikanálový detektor úhlového rozložení pomalých, zpětně odražených elektronů se zesilovačem na bázi kanálkové destičky pro rastrovací elektronový mikroskop. Detektor je schopen zachytit elektronyodražené s polárním úhlem emise až do 90deg s energií od několika set eV do několika desítek keV. Systém využívá principu katodové čočky a proto je možné plynule měnit jak energii dopadajících elektronů tak úhlové rozložení emitovaných elektronů ze vzorku. Experimenty potvrdily úhlovou selektivitu kontrastu krystalické struktury.

  • Název v anglickém jazyce

    Multichannel detector of low energy backscattered electrons

  • Popis výsledku anglicky

    Parallel eight channels detector of the angular distribution of low energy backscattered electrons, based on the amplifier formed by the multi-channel-plate detector was design and tested in the scanning electron microscope. Detector is able to collect backscattered electrons with the polar angle of the emission up to 90deg, with the energy from several hundred eV up to several tens of keV. The system is using a cathode lens principle; therefore it is possible to fluently control not only the landing energy of primary electrons but even the angular distribution of the emitted electrons from the specimen. The experiments confirmed the angular sensitivity of the crystallographic contrast.

Klasifikace

  • Druh

    X - Nezařazeno

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů