Mechanismus degradace poly[methyl(phenyl)silylene] elektronovým svazkem

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00095350" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00095350 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/70883521:28110/07:63505488

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Mechanism of poly[methyl(phenyl)silylene] e-beam degradation

Popis výsledku v původním jazyce

Poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi) was selected as a typical representative of PSi. The cathodoluminescent (CL) device developed in our laboratory was used for study of PMPSi. CL spectrum of PMPSi corresponds to photoluminescence (PL) emission spectrumof the material used. UV emission decreases rapidly with the degradation, whereas visible one remains nearly stable during electron beam (EB) irradiation. The UV emission is related to the Si backbone. The visible emission is related to the existence ofweak bonds and other defects on Si backbone. Infrared (IR) absorption spectroscopy was used to identify material changes caused by the EB degradation. IR spectra of PMPSi support the idea of Si-Si bonds deformation in the main chain of the material during the EB degradation.

Název v anglickém jazyce

Mechanism of poly[methyl(phenyl)silylene] e-beam degradation

Popis výsledku anglicky

Poly[methyl(phenyl)silylene] (PMPSi) was selected as a typical representative of PSi. The cathodoluminescent (CL) device developed in our laboratory was used for study of PMPSi. CL spectrum of PMPSi corresponds to photoluminescence (PL) emission spectrumof the material used. UV emission decreases rapidly with the degradation, whereas visible one remains nearly stable during electron beam (EB) irradiation. The UV emission is related to the Si backbone. The visible emission is related to the existence ofweak bonds and other defects on Si backbone. Infrared (IR) absorption spectroscopy was used to identify material changes caused by the EB degradation. IR spectra of PMPSi support the idea of Si-Si bonds deformation in the main chain of the material during the EB degradation.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IAA100100622" target="_blank" >IAA100100622: KONJUGOVANÉ KŘEMÍKOVÉ POLYMERY PRO REZISTY V NANOTECHNOLOGIÍCH</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

3rd European Weathering Symposium (XXVth Colloquium of Danubian Countries on Natural and Artificial Ageing of Polymers)

ISBN

978-3-9810472-3-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

11

Strana od-do

97-107

Název nakladatele

GUS

Místo vydání

Pfinztal

Místo konání akce

Krakow

Datum konání akce

12. 9. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—