Mapping the Local Density of States by Very-Low-Energy Scanning Electron Microscope

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F10%3A00340743" target="_blank" >RIV/68081731:_____/10:00340743 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Mapping the Local Density of States by Very-Low-Energy Scanning Electron Microscope

Popis výsledku v původním jazyce

Reflection of very slow electrons from solid surfaces has been reported to be inversely proportional to the local density of electronic states coupled to the incident electron wave. The reflected electron flux at units of eV used as the image signal in ascanning electron microscope allows mapping of the local density of states at high spatial resolution. Good performance of the microscope at very low energies is enabled by introducing the beam-retarding immersion lens (the cathode lens) with a biased specimen serving as the cathode. Results of demonstration experiments on aluminum are provided.

Název v anglickém jazyce

Mapping the Local Density of States by Very-Low-Energy Scanning Electron Microscope

Popis výsledku anglicky

Reflection of very slow electrons from solid surfaces has been reported to be inversely proportional to the local density of electronic states coupled to the incident electron wave. The reflected electron flux at units of eV used as the image signal in ascanning electron microscope allows mapping of the local density of states at high spatial resolution. Good performance of the microscope at very low energies is enabled by introducing the beam-retarding immersion lens (the cathode lens) with a biased specimen serving as the cathode. Results of demonstration experiments on aluminum are provided.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Materials Transactions

ISSN

1345-9678

e-ISSN

—

Svazek periodika

51

Číslo periodika v rámci svazku

2

Stát vydavatele periodika

JP - Japonsko

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—