Unconventional Imaging with Backscattered Electrons
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F11%3A00367773" target="_blank" >RIV/68081731:_____/11:00367773 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S143192761100537X" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S143192761100537X</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S143192761100537X" target="_blank" >10.1017/S143192761100537X</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Unconventional Imaging with Backscattered Electrons
Popis výsledku v původním jazyce
Immesrsion of the sample in a scanning electron microscope to strong electric field enables one to acquire the backscattered electrons (BSE) throughout full energy and angle range of emission. BSE emitted at high angles off the surface normal provide extended crystallographic information with high grain contrast sensitive to details including visualization of the internal stress. At very low energies the BSE yield may serve as fingerprinting the grain orientation. The dopant contrast can be obtained viainjection of very slow electrons.
Název v anglickém jazyce
Unconventional Imaging with Backscattered Electrons
Popis výsledku anglicky
Immesrsion of the sample in a scanning electron microscope to strong electric field enables one to acquire the backscattered electrons (BSE) throughout full energy and angle range of emission. BSE emitted at high angles off the surface normal provide extended crystallographic information with high grain contrast sensitive to details including visualization of the internal stress. At very low energies the BSE yield may serve as fingerprinting the grain orientation. The dopant contrast can be obtained viainjection of very slow electrons.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Svazek periodika
17
Číslo periodika v rámci svazku
—
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
900-901
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—