Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Snímání úhlového rozdělení zpětně odražených elektronů při nízkých energiích

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00082250" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00082250 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons at Low Energies

  • Popis výsledku v původním jazyce

    New type of detection system has been designed and tested in the Scanning Electron Microscope. Backscattered electrons (BSE) at low energies of electron impact are collected by an annular detector above the specimen, consisting of eight concentric ring-shaped collectors arranged around the optical axis so that polar angles of the initial velocity vectors of electrons can be distinguished. Backscattering of electrons, in particular around and below 1 keV of impact energy, provides rich information content that even enhances toward higher angles with respect to the surface normal. Slow, high-angle BSE are normally not detected with standard detectors. The cathode lens principle was used to secure high lateral resolution, high collection efficiency and large amplification of the detector at low energies. Prospective applications include the grain orientation contrast, contrast between amorphous and crystallinic phases, etc.

  • Název v anglickém jazyce

    Acquisition of the Angular Distribution of Backscattered Electrons at Low Energies

  • Popis výsledku anglicky

    New type of detection system has been designed and tested in the Scanning Electron Microscope. Backscattered electrons (BSE) at low energies of electron impact are collected by an annular detector above the specimen, consisting of eight concentric ring-shaped collectors arranged around the optical axis so that polar angles of the initial velocity vectors of electrons can be distinguished. Backscattering of electrons, in particular around and below 1 keV of impact energy, provides rich information content that even enhances toward higher angles with respect to the surface normal. Slow, high-angle BSE are normally not detected with standard detectors. The cathode lens principle was used to secure high lateral resolution, high collection efficiency and large amplification of the detector at low energies. Prospective applications include the grain orientation contrast, contrast between amorphous and crystallinic phases, etc.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Materials Transactions

  • ISSN

    1345-9678

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    48

  • Číslo periodika v rámci svazku

    5

  • Stát vydavatele periodika

    JP - Japonsko

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    940-943

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus