Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F10%3A00352416" target="_blank" >RIV/68081731:_____/10:00352416 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM
Popis výsledku v původním jazyce
An important role of the scanning electron microscopy (SEM) is to image and examine the local crystallinic structure of materials. As an alternative to the traditional EBSD method, suffering from slow data collection and limited lateral resolution, employment of very slow backscattered electrons (BSE) and of BSE leaving the sample at high angles with respect to the surface normal appears very promising. Neither of these signals is available in conventional SEM devices as the former species have insufficient energy to be detected while the later usually miss the detector.
Název v anglickém jazyce
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM
Popis výsledku anglicky
An important role of the scanning electron microscopy (SEM) is to image and examine the local crystallinic structure of materials. As an alternative to the traditional EBSD method, suffering from slow data collection and limited lateral resolution, employment of very slow backscattered electrons (BSE) and of BSE leaving the sample at high angles with respect to the surface normal appears very promising. Neither of these signals is available in conventional SEM devices as the former species have insufficient energy to be detected while the later usually miss the detector.

Projekt
<a href="/cs/project/OE08012" target="_blank" >OE08012: Kontrast a detekce v rastrovací elektronové mikroskopii (Contrast and detection in scanning electron microscopy)</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress
ISBN
978-85-63273-06-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Název nakladatele
Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise
Místo vydání
Rio de Janeiro
Místo konání akce
Rio de Janeiro
Datum konání akce
19. 9. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)