Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Detekce nízkoenergiových zpětně odražených elektronů v SEM

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022408" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022408 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Detection of Low Energy Backscattered Electrons in SEM

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Application of the low accelerating voltage of the primary electron beam became due to its obvious advantages very popular in last decade. Instruments which are able to work with accelerating voltage of 3 keV and lower are called Low Voltage Scanning Electron Microscopes (LV SEMs). Detection of the backscattered electrons (BSEs) in LV SEM is because of their low energy very questionable. An efficient way of low energy BSE detection is described in this work.

  • Název v anglickém jazyce

    Detection of Low Energy Backscattered Electrons in SEM

  • Popis výsledku anglicky

    Application of the low accelerating voltage of the primary electron beam became due to its obvious advantages very popular in last decade. Instruments which are able to work with accelerating voltage of 3 keV and lower are called Low Voltage Scanning Electron Microscopes (LV SEMs). Detection of the backscattered electrons (BSEs) in LV SEM is because of their low energy very questionable. An efficient way of low energy BSE detection is described in this work.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/KJB200650501" target="_blank" >KJB200650501: Detekce signálních elektronů při nízkých energiích primárního svazku v rastrovací elektronové mikroskopii</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./

  • ISBN

    1019-6447

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    1

  • Strana od-do

    61

  • Název nakladatele

    Paul Scherrer Institute

  • Místo vydání

    Villigen

  • Místo konání akce

    Davos

  • Datum konání akce

    28. 8. 2005

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku