A method of imaging ultrathin foils with very low energy electrons

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00383741" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00383741 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2012.01.002" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2012.01.002</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2012.01.002" target="_blank" >10.1016/j.ultramic.2012.01.002</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

A method of imaging ultrathin foils with very low energy electrons

Popis výsledku v původním jazyce

We demonstrate the possibility to examine the free-standing foils of thicknesses in units of nm in the scanning low energy electron microscope, using both reflected and transmitted electrons. Very high contrast has been obtained in dependence on the thickness and structure of the foil. A contribution of secondary electrons to the forward scattered electron signal is discussed and a way of suppressing it is presented. Examples of reflected, total transmitted and dark field transmitted electron signal fortwo graphene-like samples are shown. Dependence of the transmitted signal on the electron energy is observed.

Název v anglickém jazyce

A method of imaging ultrathin foils with very low energy electrons

Popis výsledku anglicky

We demonstrate the possibility to examine the free-standing foils of thicknesses in units of nm in the scanning low energy electron microscope, using both reflected and transmitted electrons. Very high contrast has been obtained in dependence on the thickness and structure of the foil. A contribution of secondary electrons to the forward scattered electron signal is discussed and a way of suppressing it is presented. Examples of reflected, total transmitted and dark field transmitted electron signal fortwo graphene-like samples are shown. Dependence of the transmitted signal on the electron energy is observed.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Ultramicroscopy

ISSN

0304-3991

e-ISSN

—

Svazek periodika

119

Číslo periodika v rámci svazku

AUG

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

79-81

Kód UT WoS článku

000308079200013

EID výsledku v databázi Scopus

—