Mass measurements using electron scattering employing an "in-lens" scanning electron microscope

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00387268" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00387268 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Mass measurements using electron scattering employing an "in-lens" scanning electron microscope

Popis výsledku v původním jazyce

Annular dark-field scanning transmission electron microscopy (ADF STEM) at lower electron energies recently became important for direct imaging of samples consisting of elements with lower atomic numbers without the need of any additional contrast enhancement like staining by heavy atoms. Furthermore, the ADF STEM offers the opportunity for quantitative studies such as mass measurements of organic (biological and non-bilological) and inorganic specimens at the nanoscale. Here, we present the hardware and software extensions of a commercial high resolution scanning electron microscope (SEM) for the above manitoned applications.

Název v anglickém jazyce

Mass measurements using electron scattering employing an "in-lens" scanning electron microscope

Popis výsledku anglicky

Annular dark-field scanning transmission electron microscopy (ADF STEM) at lower electron energies recently became important for direct imaging of samples consisting of elements with lower atomic numbers without the need of any additional contrast enhancement like staining by heavy atoms. Furthermore, the ADF STEM offers the opportunity for quantitative studies such as mass measurements of organic (biological and non-bilological) and inorganic specimens at the nanoscale. Here, we present the hardware and software extensions of a commercial high resolution scanning electron microscope (SEM) for the above manitoned applications.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/EE.2.3.20.0103" target="_blank" >EE.2.3.20.0103: Podpora lidských zdrojů a transferu znalostí v podmínkách mezinárodní spolupráce vědeckých týmů</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

EMC 2012. Proceedings of the 15th European Microscopy Congress

ISBN

978-0-9502463-6-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

111-112

Název nakladatele

The Royal Microscopical Society

Místo vydání

Manchester

Místo konání akce

Manchester

Datum konání akce

16. 9. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—