Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00421778" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00421778 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26210/13:PU104935

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement

Popis výsledku v původním jazyce

Quantitative measurements of thin samples, e.g., mass determination of macromolecular assemblies, have been performed for many years by the dedicated scanning transmission electron microscopes (STEM) established at only a few institutions worldwide [1,2]. We show that such quantitative measurements can also be performed by commercial high-resolution scanning electron microscopes (SEM) if they are appropriately extended. This includes mainly a very sensitive and well calibrated annular dark-field (ADF) detector, a specific data processing enabling to obtain simultaneously structural information and data on the mass thickness distribution, and a specific cryo-preparation of investigated samples.

Název v anglickém jazyce

Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement

Popis výsledku anglicky

Quantitative measurements of thin samples, e.g., mass determination of macromolecular assemblies, have been performed for many years by the dedicated scanning transmission electron microscopes (STEM) established at only a few institutions worldwide [1,2]. We show that such quantitative measurements can also be performed by commercial high-resolution scanning electron microscopes (SEM) if they are appropriately extended. This includes mainly a very sensitive and well calibrated annular dark-field (ADF) detector, a specific data processing enabling to obtain simultaneously structural information and data on the mass thickness distribution, and a specific cryo-preparation of investigated samples.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

19

Číslo periodika v rámci svazku

S2

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

130-131

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—