Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00421778" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00421778 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26210/13:PU104935
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement
Popis výsledku v původním jazyce
Quantitative measurements of thin samples, e.g., mass determination of macromolecular assemblies, have been performed for many years by the dedicated scanning transmission electron microscopes (STEM) established at only a few institutions worldwide [1,2]. We show that such quantitative measurements can also be performed by commercial high-resolution scanning electron microscopes (SEM) if they are appropriately extended. This includes mainly a very sensitive and well calibrated annular dark-field (ADF) detector, a specific data processing enabling to obtain simultaneously structural information and data on the mass thickness distribution, and a specific cryo-preparation of investigated samples.
Název v anglickém jazyce
Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement
Popis výsledku anglicky
Quantitative measurements of thin samples, e.g., mass determination of macromolecular assemblies, have been performed for many years by the dedicated scanning transmission electron microscopes (STEM) established at only a few institutions worldwide [1,2]. We show that such quantitative measurements can also be performed by commercial high-resolution scanning electron microscopes (SEM) if they are appropriately extended. This includes mainly a very sensitive and well calibrated annular dark-field (ADF) detector, a specific data processing enabling to obtain simultaneously structural information and data on the mass thickness distribution, and a specific cryo-preparation of investigated samples.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Svazek periodika
19
Číslo periodika v rámci svazku
S2
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
130-131
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—