Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00421778" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00421778 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/00216305:26210/13:PU104935

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Quantitative measurements of thin samples, e.g., mass determination of macromolecular assemblies, have been performed for many years by the dedicated scanning transmission electron microscopes (STEM) established at only a few institutions worldwide [1,2]. We show that such quantitative measurements can also be performed by commercial high-resolution scanning electron microscopes (SEM) if they are appropriately extended. This includes mainly a very sensitive and well calibrated annular dark-field (ADF) detector, a specific data processing enabling to obtain simultaneously structural information and data on the mass thickness distribution, and a specific cryo-preparation of investigated samples.

  • Název v anglickém jazyce

    Beyond Imaging: Scanning Electron Microscope for the Quantitative Mass Measurement

  • Popis výsledku anglicky

    Quantitative measurements of thin samples, e.g., mass determination of macromolecular assemblies, have been performed for many years by the dedicated scanning transmission electron microscopes (STEM) established at only a few institutions worldwide [1,2]. We show that such quantitative measurements can also be performed by commercial high-resolution scanning electron microscopes (SEM) if they are appropriately extended. This includes mainly a very sensitive and well calibrated annular dark-field (ADF) detector, a specific data processing enabling to obtain simultaneously structural information and data on the mass thickness distribution, and a specific cryo-preparation of investigated samples.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microscopy and Microanalysis

  • ISSN

    1431-9276

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    19

  • Číslo periodika v rámci svazku

    S2

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    130-131

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus