Měření hmotnosti pomocí elektronového mikroskopu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00385753" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00385753 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Měření hmotnosti pomocí elektronového mikroskopu

Popis výsledku v původním jazyce

Rastrovací elektronový mikroskop(REM) je známý zejména pro zobrazování a studium povrchu vzorků, ale po vhodné kalibraci lze jeho funkci riozšířit o kvantitativní měření, kterému se věnuje tento článek. Přidané využití REMu je demonstrováno na měření lokální tloušťky velmi tenkých vzorků pomocí prstencového detektoru temného pole. Vhodnými objekty v tomto případě jsou např. tenké filmy, nanočástice, makromolekulární komplexy, u kterých se tímto způsobem dá měřit celková hmotnost, rozložení hmotnosti najednotku délky v případě vlíken, či na jednotku plochy v případě již zmíněných tenkých vrstevnatých preparátů. Kromě toho se dá tato metoda aplikovat absolutně, t.j.bez nutnosti použití jakýchkoli standardů tlouštěk, respektivě hmotnosti.

Název v anglickém jazyce

Mass measurements using electron microscope

Popis výsledku anglicky

Scanning electron microscope (SEM) has been used for imaging and analysis of sample surfaces. However, a well calibrated SEM can also be used for quantitative measurements that are described in this contribution. We demonstrate that the extended SEM canbe used for measurement of local thickness of very thin samples using an annular dark-field detector. Samples of interest for such measurements can be, for example, thin films, nanoparticles, macromolecular complexes where it is possible to measure massper length in the case of filamentous structures or mass per area in case of layers. In addition, this technique can be applied to the absolute measurement without the need of any thickness or mass standards.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Jemná mechanika a optika

ISSN

0447-6441

e-ISSN

—

Svazek periodika

57

Číslo periodika v rámci svazku

10

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

275-277

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—