Investigation of Electron Beam Induced Mass Loss of Embedding Media in the Low Voltage STEM
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F14%3A00436622" target="_blank" >RIV/68081731:_____/14:00436622 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26210/14:PU110188
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927614008083" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927614008083</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927614008083" target="_blank" >10.1017/S1431927614008083</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Investigation of Electron Beam Induced Mass Loss of Embedding Media in the Low Voltage STEM
Popis výsledku v původním jazyce
The STEM (scanning transmission electron microscope) is useful device combining features of scanning and transmission electron microscopes. The sample in form of ultrathin section is scanned by the electron probe and the transmitted electrons are detected. Except the dedicated STEMs this mode can exist as options in both TEM and SEM. The STEM based on the SEM equipped by a transmission detector (often called as low voltage STEM) was used for presented experiments. Nowadays, the low voltage STEM is moreoften used, and in many cases replaces the typical TEM. Here, we report investigations of embedding media that are typically used for TEM preparation of biological samples.
Název v anglickém jazyce
Investigation of Electron Beam Induced Mass Loss of Embedding Media in the Low Voltage STEM
Popis výsledku anglicky
The STEM (scanning transmission electron microscope) is useful device combining features of scanning and transmission electron microscopes. The sample in form of ultrathin section is scanned by the electron probe and the transmitted electrons are detected. Except the dedicated STEMs this mode can exist as options in both TEM and SEM. The STEM based on the SEM equipped by a transmission detector (often called as low voltage STEM) was used for presented experiments. Nowadays, the low voltage STEM is moreoften used, and in many cases replaces the typical TEM. Here, we report investigations of embedding media that are typically used for TEM preparation of biological samples.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Svazek periodika
20
Číslo periodika v rámci svazku
S3
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
1270-1271
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—