SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00426282" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00426282 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev
Popis výsledku v původním jazyce
Měření topografie a vyhodnocení vlastností tenkých polymerních vrstev, které byly naneseny na křemíkové a křemenné substráty. Měření byla provedena mikroskopem atomárních sil v kontaktním režimu. Ze získáných dat byla vyhodnocena drsnost jednotlivých vzorků. Současně byla také provedena analýza jednotlivých fází polymerů ve vrstvách s pomocí měření laterálních sil.
Název v anglickém jazyce
SMV-2012-19: Topography of thin polymer films
Popis výsledku anglicky
Topography measurement and properties' evaluation of thin polymer films deposited on silicon and quartz glass substrates. Measurements were carried out by atomic force microscopy (AFM)in contact mode. The roughness of polymer films were determined. Simultaneously analysis of individual phases in polymers was done by measurement of lateral forces.
Klasifikace
Druh
V<sub>souhrn</sub> - Souhrnná výzkumná zpráva
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Počet stran výsledku
4
Místo vydání
Brno
Název nakladatele resp. objednatele
—
Verze
—