About the information depth of backscattered electron imaging

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F17%3A00477097" target="_blank" >RIV/68081731:_____/17:00477097 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26210/17:PU128750
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1111/jmi.12542" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1111/jmi.12542</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1111/jmi.12542" target="_blank" >10.1111/jmi.12542</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
About the information depth of backscattered electron imaging
Popis výsledku v původním jazyce
The information depth of imaging with backscattered electrons in the scanning electron microscope was measured directly by comparison of a planar view of a steel sample with buried precipitates with an image of a section cut through precipitates by means of a Focused Ion Beam attachment. The information depth was determined across the electron energy range of units of keV and the results were compared with information depths calculated from two published equations and simulated using widely available Monte Carlo-based software. Recommendations are given for routine estimations of BSE information depths.
Název v anglickém jazyce
About the information depth of backscattered electron imaging
Popis výsledku anglicky
The information depth of imaging with backscattered electrons in the scanning electron microscope was measured directly by comparison of a planar view of a steel sample with buried precipitates with an image of a section cut through precipitates by means of a Focused Ion Beam attachment. The information depth was determined across the electron energy range of units of keV and the results were compared with information depths calculated from two published equations and simulated using widely available Monte Carlo-based software. Recommendations are given for routine estimations of BSE information depths.

Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika
Journal of Microscopy
ISSN
0022-2720
e-ISSN
—
Svazek periodika
266
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
335-342
Kód UT WoS článku
000401526500011
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85014109419

Podobné výsledky(10)