Aplikační dokument pro autoemisní mikroskop určený pro charakterizaci SPM sond
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F24%3A00618989" target="_blank" >RIV/68081731:_____/24:00618989 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Aplikační dokument pro autoemisní mikroskop určený pro charakterizaci SPM sond
Popis výsledku v původním jazyce
Knápek, A. Aplikační dokument pro autoemisní mikroskop určený pro charakterizaci SPM sond. 2024. Tento aplikační dokument představuje nové technické řešení v oblasti charakterizace vodivých sond pro rastrovací sondové mikroskopy (SPM), zejména AFM a STM. Navržený autoemisní mikroskop využívá měření autoemisního proudu v ultra-vakuovém prostředí s následnou vizualizací pomocí scintilačního detektoru (YAG:Ce). Systém umožňuje detailní analýzu charakteristik sond pomocí ortodoxního testování na základě Murphyho-Goodova grafu. Zařízení poskytuje nedestruktivní, objektivní a opakovatelné hodnocení kvality sond včetně možnosti testování stability a zrychleného stárnutí. Výsledkem je zlepšená kontrola kvality a optimalizace výkonu sond pro přesné mikroskopické zobrazování.
Název v anglickém jazyce
Application document for an Field-emission microscope designed for the characterization of SPM probes
Popis výsledku anglicky
Knápek, A. Aplikační dokument pro autoemisní mikroskop určený pro charakterizaci SPM sond. 2024. This application note presents a new technical solution in the field of characterization of conductive probes for scanning probe microscopes (SPM), especially AFM and STM. The proposed self-emission microscope uses self-emission current measurement in an ultra-vacuum environment with subsequent visualization using a scintillation detector (YAG:Ce). The system allows for detailed analysis of probe characteristics using orthodox testing based on the Murphy-Good plot. The device provides non-destructive, objective and repeatable probe quality assessment, including the possibility of stability and accelerated aging testing. The result is improved quality control and optimization of probe performance for precise microscopic imaging.
Klasifikace
Druh
O - Ostatní výsledky
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/FW03010504" target="_blank" >FW03010504: Vývoj in-situ technik pro charakterizaci materiálů a nanostruktur</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2024
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů