Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Pružný odraz elektronů od povrchu křemíku: vliv koncentrace nosičů náboje

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F04%3A00104231" target="_blank" >RIV/68378271:_____/04:00104231 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Silicon wafers, p- and n-doped with different free-carrier charge concentrations, were selected as model materials to study a possible influence of charge-carrier concentrations (or electrical conductivity) on measured elastic electron backscattering probabilities and electron inelastic mean free paths determined by elastic peak electron spectroscopy

  • Název v anglickém jazyce

    Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration

  • Popis výsledku anglicky

    Silicon wafers, p- and n-doped with different free-carrier charge concentrations, were selected as model materials to study a possible influence of charge-carrier concentrations (or electrical conductivity) on measured elastic electron backscattering probabilities and electron inelastic mean free paths determined by elastic peak electron spectroscopy

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA202%2F02%2F0237" target="_blank" >GA202/02/0237: Elektronový transport při površích pevných látek</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2004

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Surface and Interface Analysis

  • ISSN

    0142-2421

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    36

  • Číslo periodika v rámci svazku

    -

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

    809-811

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus