Pružný odraz elektronů od povrchu křemíku: vliv koncentrace nosičů náboje

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F04%3A00104231" target="_blank" >RIV/68378271:_____/04:00104231 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration
Popis výsledku v původním jazyce
Silicon wafers, p- and n-doped with different free-carrier charge concentrations, were selected as model materials to study a possible influence of charge-carrier concentrations (or electrical conductivity) on measured elastic electron backscattering probabilities and electron inelastic mean free paths determined by elastic peak electron spectroscopy
Název v anglickém jazyce
Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration
Popis výsledku anglicky
Silicon wafers, p- and n-doped with different free-carrier charge concentrations, were selected as model materials to study a possible influence of charge-carrier concentrations (or electrical conductivity) on measured elastic electron backscattering probabilities and electron inelastic mean free paths determined by elastic peak electron spectroscopy

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F02%2F0237" target="_blank" >GA202/02/0237: Elektronový transport při površích pevných látek</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2004
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika
Surface and Interface Analysis
ISSN
0142-2421
e-ISSN
—
Svazek periodika
36
Číslo periodika v rámci svazku
-
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
809-811
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—

Podobné výsledky(10)