Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Charakterizace růstu zrn, povahy a role hranic zrn v mikrokrystalickém křemíku ? přehled typických vlastností

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00040652" target="_blank" >RIV/68378271:_____/06:00040652 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization of grain growth, nature and role of grain boundaries in microcrystalline silicon ? review of typical features

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A boundary between amorphous and microcrystalline growth of silicon thin films was explored for the study of grain growth by changing parameters of plasma enhanced deposition (substrate temperature, silane dilution or deposition duration and thus the film thickness)

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of grain growth, nature and role of grain boundaries in microcrystalline silicon ? review of typical features

  • Popis výsledku anglicky

    A boundary between amorphous and microcrystalline growth of silicon thin films was explored for the study of grain growth by changing parameters of plasma enhanced deposition (substrate temperature, silane dilution or deposition duration and thus the film thickness)

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Thin Solid Films

  • ISSN

    0040-6090

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    501

  • Číslo periodika v rámci svazku

    -

  • Stát vydavatele periodika

    CH - Švýcarská konfederace

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    107-112

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus