Charakterizace slunečních článků a materiálů pro tyto články pomocí metody povrchového fotonapětí

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00079306" target="_blank" >RIV/68378271:_____/06:00079306 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216208:11320/06:00003120

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterization of Solar Cells and Materials for the Cells by Surface Photovoltage Method

Popis výsledku v původním jazyce

The surface photovoltage method is generalized for arbitrarily thick samples. Relations for the photocurrent and the open-circuit voltage are derived including the effect of reflections, surface recombination and sample thickness. The method is applied to silicon wafers, Si:H layers, Si and CdS/CdTe cells in order to evaluate the diffusion length of minority carriers

Název v anglickém jazyce

Characterization of Solar Cells and Materials for the Cells by Surface Photovoltage Method

Popis výsledku anglicky

The surface photovoltage method is generalized for arbitrarily thick samples. Relations for the photocurrent and the open-circuit voltage are derived including the effect of reflections, surface recombination and sample thickness. The method is applied to silicon wafers, Si:H layers, Si and CdS/CdTe cells in order to evaluate the diffusion length of minority carriers

Druh

C - Kapitola v odborné knize

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název knihy nebo sborníku

Solar Energy: New Research

ISBN

1-59454-630-4

Počet stran výsledku

35

Strana od-do

321-355

Počet stran knihy

—

Název nakladatele

Nova Science Publishers

Místo vydání

New York

Kód UT WoS kapitoly

—