Srovnání fotovodivostních spekter vrstev amorfního křemíku a solárních článků na nich založených měřených pomocí metod FTPS a CPM

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00319690" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00319690 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68378271:_____/08:00341939

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Comparison of photocurrent spectra measured by FTPS and CPM for amorphous silicon layers and solar cells

Popis výsledku v původním jazyce

Fourier Transform Photocurrent Spectroscopy (FTPS) has been recently introduced as a fast and highly sensitive method for the evaluation of the optical absorption coefficient of photoconductive thin films such as microcrystalline silicon layers. This contribution represents the first study of FTPS utilization for amorphous silicon layers and cells. FTPS spectra are compared with results of Constant Photocurrent Method (CPM) and Dual Beam Photoconductivity (DBP) measured at different chopping frequencies. We will concentrate to highlight the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for correct data interpretation. Moreover, we will present our novel approach for the interference free determination of absorption coefficients of thin films grown on transparent substrates, which is mainly important for very thin layers where broad interference fringes do not allow correct evaluation of parameters such as a slope of the Urbach tail and the defect density.

Název v anglickém jazyce

Comparison of photocurrent spectra measured by FTPS and CPM for amorphous silicon layers and solar cells

Popis výsledku anglicky

Fourier Transform Photocurrent Spectroscopy (FTPS) has been recently introduced as a fast and highly sensitive method for the evaluation of the optical absorption coefficient of photoconductive thin films such as microcrystalline silicon layers. This contribution represents the first study of FTPS utilization for amorphous silicon layers and cells. FTPS spectra are compared with results of Constant Photocurrent Method (CPM) and Dual Beam Photoconductivity (DBP) measured at different chopping frequencies. We will concentrate to highlight the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for correct data interpretation. Moreover, we will present our novel approach for the interference free determination of absorption coefficients of thin films grown on transparent substrates, which is mainly important for very thin layers where broad interference fringes do not allow correct evaluation of parameters such as a slope of the Urbach tail and the defect density.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/SN%2F3%2F172%2F05" target="_blank" >SN/3/172/05: *Nízkoenergetické struktury fotovoltaických článků a prvky FV systémů</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Non-Crystalline Solids

ISSN

0022-3093

e-ISSN

—

Svazek periodika

354

Číslo periodika v rámci svazku

19-25

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000256500400023

EID výsledku v databázi Scopus

—