Srovnání fotovodivostních spekter vrstev amorfního křemíku a solárních článků na nich založených měřených pomocí metod FTPS a CPM
Popis výsledku
Fourierovská fotovodivostní spektroskopie (FTPS) byla zavedena v nedávné době jako rychlá a vysoce citlivá metoda pro určení optického absorpčního koeficientu fotovodivých tenkých vrstev, např. mikrokrystalických křemíkových vrstev. Tento článek představuje první studii použití FTPS na vrstvy amorfního křemíku a na články na nich založené. FTPS spektra jsou porovnána s výsledky metody konstantního fotoproudu (CPM) a metody dvoupaprskové fotovodivosti (DBP) měřenými za různých přerušovacích frekvencí. Zaměřujeme se především na vhodné měřící podmínky a vyhodnocovací proces pro správnou interpretaci dat. Dále představujeme nový přístup k vyhodnocení absorpčních koeficientů tenkých vrstev narostlých na průhledných podložkách, což je důležité především provelmi tenké vrstvy u nichž široké interferenční proužky znemožňují správné vyhodnocení parametrů jako je sklon Urbachovy hrany a koncentrace defektů.
Klíčová slova
siliconsolar cellsband structuredefectsoptical propertiesabsorptionFTIR measurementsphotoconductivitymedium-range order
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68378271:_____/08:00341939
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Comparison of photocurrent spectra measured by FTPS and CPM for amorphous silicon layers and solar cells
Popis výsledku v původním jazyce
Fourier Transform Photocurrent Spectroscopy (FTPS) has been recently introduced as a fast and highly sensitive method for the evaluation of the optical absorption coefficient of photoconductive thin films such as microcrystalline silicon layers. This contribution represents the first study of FTPS utilization for amorphous silicon layers and cells. FTPS spectra are compared with results of Constant Photocurrent Method (CPM) and Dual Beam Photoconductivity (DBP) measured at different chopping frequencies. We will concentrate to highlight the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for correct data interpretation. Moreover, we will present our novel approach for the interference free determination of absorption coefficients of thin films grown on transparent substrates, which is mainly important for very thin layers where broad interference fringes do not allow correct evaluation of parameters such as a slope of the Urbach tail and the defect density.
Název v anglickém jazyce
Comparison of photocurrent spectra measured by FTPS and CPM for amorphous silicon layers and solar cells
Popis výsledku anglicky
Fourier Transform Photocurrent Spectroscopy (FTPS) has been recently introduced as a fast and highly sensitive method for the evaluation of the optical absorption coefficient of photoconductive thin films such as microcrystalline silicon layers. This contribution represents the first study of FTPS utilization for amorphous silicon layers and cells. FTPS spectra are compared with results of Constant Photocurrent Method (CPM) and Dual Beam Photoconductivity (DBP) measured at different chopping frequencies. We will concentrate to highlight the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for correct data interpretation. Moreover, we will present our novel approach for the interference free determination of absorption coefficients of thin films grown on transparent substrates, which is mainly important for very thin layers where broad interference fringes do not allow correct evaluation of parameters such as a slope of the Urbach tail and the defect density.
Klasifikace
Druh
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
SN/3/172/05: *Nízkoenergetické struktury fotovoltaických článků a prvky FV systémů
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Non-Crystalline Solids
ISSN
0022-3093
e-ISSN
—
Svazek periodika
354
Číslo periodika v rámci svazku
19-25
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000256500400023
EID výsledku v databázi Scopus
—
Druh výsledku
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Rok uplatnění
2008