Pokročilá optická charakterizace neuspořádáných polovodičů pomocí Fourierovské fotovodivostní spektroskopie

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00319707" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00319707 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68378271:_____/08:00341938

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Advanced optical characterization of disordered semiconductors by Fourier transform photocurrent spectroscopy

Popis výsledku v původním jazyce

The paper summarizes progress in the Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS) since 2001 when it was introduced for the first time for evaluation of the spectral dependence of the optical absorption coefficient in microcrystalline silicon thinfilms. We concentrate on the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for a correct data interpretation of various thin films and solar cell structures. We show how the measured and finally evaluated absorption spectra differ in case ofsingle junction amorphous and microcrystalline silicon solar cells as well as for a micromorph tandem. The key issue of the tandem structure diagnostics is a separation of FTPS signals from amorphous and microcrystalline parts of a stacked structure andtheir correct interpretation. For an appropriate simulation of the light propagation within the structure and confirmation of our measuring approach the computer model cell has been used.

Název v anglickém jazyce

Advanced optical characterization of disordered semiconductors by Fourier transform photocurrent spectroscopy

Popis výsledku anglicky

The paper summarizes progress in the Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS) since 2001 when it was introduced for the first time for evaluation of the spectral dependence of the optical absorption coefficient in microcrystalline silicon thinfilms. We concentrate on the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for a correct data interpretation of various thin films and solar cell structures. We show how the measured and finally evaluated absorption spectra differ in case ofsingle junction amorphous and microcrystalline silicon solar cells as well as for a micromorph tandem. The key issue of the tandem structure diagnostics is a separation of FTPS signals from amorphous and microcrystalline parts of a stacked structure andtheir correct interpretation. For an appropriate simulation of the light propagation within the structure and confirmation of our measuring approach the computer model cell has been used.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/SN%2F3%2F172%2F05" target="_blank" >SN/3/172/05: *Nízkoenergetické struktury fotovoltaických článků a prvky FV systémů</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Non-Crystalline Solids

ISSN

0022-3093

e-ISSN

—

Svazek periodika

354

Číslo periodika v rámci svazku

19-25

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000256500400078

EID výsledku v databázi Scopus

—