Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00347825" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00347825 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films

Popis výsledku v původním jazyce

Conductive atomic force microscopy (C-AFM) can be used to probe the structure and local conductivity of the mixed phase silicon thin films with nanometer resolution. Effective medium approximations (EMAs) were used to relate the nanoscale properties withmacroscopic properties for the dark conductivity. Comparison of the percolation threshold predicted by different EMAs show correlation of the structure, with resistive amorphous phase coating the conductive grains. In sandwich structures (e.g. solar cells) local fields may play important role: concentration of both optical and electrical internal fields to the tips of spherically capped conical microcrystalline grains. Adaptive higher-order polynomial finite-element methods (FEMs) were used to calculate the internal field distributions in the C-AFM. The values agree with the experimental C-AFM.

Název v anglickém jazyce

Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films

Popis výsledku anglicky

Conductive atomic force microscopy (C-AFM) can be used to probe the structure and local conductivity of the mixed phase silicon thin films with nanometer resolution. Effective medium approximations (EMAs) were used to relate the nanoscale properties withmacroscopic properties for the dark conductivity. Comparison of the percolation threshold predicted by different EMAs show correlation of the structure, with resistive amorphous phase coating the conductive grains. In sandwich structures (e.g. solar cells) local fields may play important role: concentration of both optical and electrical internal fields to the tips of spherically capped conical microcrystalline grains. Adaptive higher-order polynomial finite-element methods (FEMs) were used to calculate the internal field distributions in the C-AFM. The values agree with the experimental C-AFM.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Physica Status Solidi. A

ISSN

1862-6300

e-ISSN

—

Svazek periodika

207

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

DE - Spolková republika Německo

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000276339800018

EID výsledku v databázi Scopus

—