Minimization of absorption contrast for accurate amorphous phase quantification: application to ZrO2 nanoparticles

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00349618" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00349618 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Minimization of absorption contrast for accurate amorphous phase quantification: application to ZrO2 nanoparticles

Popis výsledku v původním jazyce

Monoclinic and tetragonal zirconia samples were characterized by X-ray diffraction, pycnometry, thermogravimetric analysis (TGA), Fourier transform (FT) IR and mass (MS) spectroscopies, and scanning and transmission electron (TEM) microscopies. The results show, for the particular case of a tetragonal zirconia sample, an X-ray-undetected subproduct identified as an amorphous organic phase by FTIR?ATR (attenuated total reflection) and TGA?MS. The observations by TEM allowed this amorphous phase to be localized on the surface as a shell coating the nanoparticles. Moreover, this amorphous phase was quantified by Rietveld refinement via the addition of an internal silicon standard.

Název v anglickém jazyce

Minimization of absorption contrast for accurate amorphous phase quantification: application to ZrO2 nanoparticles

Popis výsledku anglicky

Monoclinic and tetragonal zirconia samples were characterized by X-ray diffraction, pycnometry, thermogravimetric analysis (TGA), Fourier transform (FT) IR and mass (MS) spectroscopies, and scanning and transmission electron (TEM) microscopies. The results show, for the particular case of a tetragonal zirconia sample, an X-ray-undetected subproduct identified as an amorphous organic phase by FTIR?ATR (attenuated total reflection) and TGA?MS. The observations by TEM allowed this amorphous phase to be localized on the surface as a shell coating the nanoparticles. Moreover, this amorphous phase was quantified by Rietveld refinement via the addition of an internal silicon standard.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Crystallography

ISSN

0021-8898

e-ISSN

—

Svazek periodika

43

Číslo periodika v rámci svazku

Part 5

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000281996600021

EID výsledku v databázi Scopus

—