Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Optical absorption losses in metal layers used in thin film solar cells

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00354029" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00354029 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Optical absorption losses in metal layers used in thin film solar cells

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We apply optical transmittance & reflectance spectroscopy, photothermal deflection spectroscopy (PDS) and laser calorimetry (LC) to evaluate optical absorption losses at rough interface between thin conductive oxide (TCO) and metal films used as backreflectors and electrical contacts in thin film solar cells. The paper proposes a simple method how to model the dielectric function of the rough metal layer used in thin film solar cells. We show that the rough metal layer optically behaves as a semi-infinite layer with modified dielectric function calculated by Landau-Lifshitz-Looyenga model from the dielectric function of a smooth metal, the dielectric function of TCO and one unknown parameter that needs to be fitted. This greatly simplifies modelling the optical properties of thin film solar cells.

  • Název v anglickém jazyce

    Optical absorption losses in metal layers used in thin film solar cells

  • Popis výsledku anglicky

    We apply optical transmittance & reflectance spectroscopy, photothermal deflection spectroscopy (PDS) and laser calorimetry (LC) to evaluate optical absorption losses at rough interface between thin conductive oxide (TCO) and metal films used as backreflectors and electrical contacts in thin film solar cells. The paper proposes a simple method how to model the dielectric function of the rough metal layer used in thin film solar cells. We show that the rough metal layer optically behaves as a semi-infinite layer with modified dielectric function calculated by Landau-Lifshitz-Looyenga model from the dielectric function of a smooth metal, the dielectric function of TCO and one unknown parameter that needs to be fitted. This greatly simplifies modelling the optical properties of thin film solar cells.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Physica Status Solidi. A

  • ISSN

    1862-6300

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    207

  • Číslo periodika v rámci svazku

    9

  • Stát vydavatele periodika

    DE - Spolková republika Německo

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000282766100031

  • EID výsledku v databázi Scopus