An electrode-free method of characterizing the microwave dielectric properties of high-permittivity thin films

Kód výsledku v IS VaVaI

RIV/68378271:_____/11:00374373 - isvavai.cz

Výsledek na webu

http://dx.doi.org/10.1063/1.3537835

DOI - Digital Object Identifier

10.1063/1.3537835

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

An electrode-free method of characterizing the microwave dielectric properties of high-permittivity thin films

Popis výsledku v původním jazyce

A thin dielectric resonator consisting of a dielectric substrate and the thin film deposited upon it is proposed for microwave characterization and dielectric parameter measurement of high-permittivity thin films without electrodes. Ultra-thin strained EuTiO3 films on LSAT and DyScO3 substrates were characterized.

Název v anglickém jazyce

An electrode-free method of characterizing the microwave dielectric properties of high-permittivity thin films

Popis výsledku anglicky

A thin dielectric resonator consisting of a dielectric substrate and the thin film deposited upon it is proposed for microwave characterization and dielectric parameter measurement of high-permittivity thin films without electrodes. Ultra-thin strained EuTiO3 films on LSAT and DyScO3 substrates were characterized.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

GA202/09/0682: Dielektrická spektroskopie a mřížková dynamika magnetoelektrických multiferoik a napjatých feroelektrických tenkých vrstev

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Physics

ISSN

0021-8979

e-ISSN

—

Svazek periodika

109

Číslo periodika v rámci svazku

2

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

"024106/1"-"024106/6"

Kód UT WoS článku

000286896400079

EID výsledku v databázi Scopus

—