GaN polarity determination by photoelectron diffraction
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F13%3A00396607" target="_blank" >RIV/68378271:_____/13:00396607 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://apl.aip.org/resource/1/applab/v103/i9/p091601_s1?isAuthorized=no" target="_blank" >http://apl.aip.org/resource/1/applab/v103/i9/p091601_s1?isAuthorized=no</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4819761" target="_blank" >10.1063/1.4819761</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
GaN polarity determination by photoelectron diffraction
Popis výsledku v původním jazyce
A nondestructive approach to determine the wurtzite GaN crystal polarity based on X-ray photoelectron diffraction is proposed. The approach, utilizing the ratio of photoemitted electron currents excited by a standard laboratory X-ray source from the N 1slevel in the (10 -10) plane at polar angles of 20 and 25 , is tested on GaN crystals. The photoelectron intensity ratio I20/I25 is larger or smaller than unity for GaN(0001) or GaN(000 -1), respectively. The approach can be used for polarity determination of other binary wurtzite crystals. The atom with the smaller electron scattering cross-section should be used as the emitter.
Název v anglickém jazyce
GaN polarity determination by photoelectron diffraction
Popis výsledku anglicky
A nondestructive approach to determine the wurtzite GaN crystal polarity based on X-ray photoelectron diffraction is proposed. The approach, utilizing the ratio of photoemitted electron currents excited by a standard laboratory X-ray source from the N 1slevel in the (10 -10) plane at polar angles of 20 and 25 , is tested on GaN crystals. The photoelectron intensity ratio I20/I25 is larger or smaller than unity for GaN(0001) or GaN(000 -1), respectively. The approach can be used for polarity determination of other binary wurtzite crystals. The atom with the smaller electron scattering cross-section should be used as the emitter.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GBP108%2F12%2FG108" target="_blank" >GBP108/12/G108: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů zářením</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Physics Letters
ISSN
0003-6951
e-ISSN
—
Svazek periodika
103
Číslo periodika v rámci svazku
9
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
"091601-1"-"091601-4"
Kód UT WoS článku
000323846900015
EID výsledku v databázi Scopus
—