Polarity of GaN with polar {0001} and semipolar {1011}, {2021}, {1122}, orientations by x-ray photoelectron diffraction

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00456585" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00456585 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2015.153" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2015.153</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2015.153" target="_blank" >10.1557/jmr.2015.153</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Polarity of GaN with polar {0001} and semipolar {1011}, {2021}, {1122}, orientations by x-ray photoelectron diffraction

Popis výsledku v původním jazyce

Review paper about nondestructive method for polarity determination of wurtzite GaN crystals based on x-ray photoelectron diffraction (XPD). Photoelectron emission from N 1s core level excited by Mg K? source was found sufficient for the polarity determination of GaN crystals. Due to dominant electron forward scattering along N?Ga directions, photoelectron intensities either increase or decrease within a relatively narrow emission polar angle range.

Název v anglickém jazyce

Polarity of GaN with polar {0001} and semipolar {1011}, {2021}, {1122}, orientations by x-ray photoelectron diffraction

Popis výsledku anglicky

Review paper about nondestructive method for polarity determination of wurtzite GaN crystals based on x-ray photoelectron diffraction (XPD). Photoelectron emission from N 1s core level excited by Mg K? source was found sufficient for the polarity determination of GaN crystals. Due to dominant electron forward scattering along N?Ga directions, photoelectron intensities either increase or decrease within a relatively narrow emission polar angle range.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Materials Research

ISSN

0884-2914

e-ISSN

—

Svazek periodika

30

Číslo periodika v rámci svazku

19

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

2881-2892

Kód UT WoS článku

000362981300005

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-84944442125